Fraunhofer-Institut für Angewandte Festkörperphysik IAFBei dem diesjährigen European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF) wurde Dr. Michael Dammann vom Fraunhofer IAF mit dem Best Paper Award ausgezeichnet.
ESREF 2024: Michael Dammann erhält Best Paper Award
15.10.2024 / European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis 2024
Dr. Michael Dammann, Forscher am Fraunhofer IAF im Bereich Charakterisierung und Zuverlässigkeit, wurde mit dem Best Paper Award der ESREF 2024 ausgezeichnet.
Über die ESREF
Die 35. Ausgabe des European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, kurz ESREF, fand vom 23. bis 26. September in Parma, Italien, statt. Als führende internationale Konferenz konzentriert sich die ESREF auf die neuesten Forschungsentwicklungen und Zukunftsthemen in der Fehleranalyse, Qualität und Zuverlässigkeit von Materialien, Bauelementen und Schaltungen für die Mikro- und Optoelektronik, Leistungselektronik, Raumfahrt- und Automobilelektronik. Die Veranstaltung bietet Teilnehmenden aus Wissenschaft und Industrie ein Austauschforum über alle Aspekte der Zuverlässigkeit für gegenwärtige und zukünftige Halbleiteranwendungen.